钢研纳克光谱仪的产品特点及组成结构

　　钢研纳克光谱仪采用高分辨率线阵CMOS作为检测器，CMOS检测仪器集成性高、读取速度更快、功耗低、长期稳定性更高;每个像素自带放大器，可对特殊元素进行强度调整，增加仪器的准确度，降低分析限，实现全谱扫描。采用智能控制光室充气系统，仪器性能更稳定，服务期限更长久。海量的谱线使分析不再受限，曲线分段跳转同一元素不同谱线间实现无缝衔接，拓展分析范围三元素干扰校正使元素分析更加准确，可以在用户现场任意增加材料基体和分析元素而无需增加硬件，维护保养方便。能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料;网口采集传输，速度快，通用性更强。
 

　　钢研纳克光谱仪的产品特点：
 

　　1.分析速度快 一分钟---分析15个元素以上
 

　　2.精密度高 相对标准偏差rsd≤1.5%
 

　　3.稳定性好 相对标准偏差rsd≤2.0%
 

　　4.检出限低 μg∕l
 

　　5.分析元素多 可对70多种元素进行定量分析
 

　　6.操作便捷 全新windows运行环境功能齐全
 

　　7.全自动点火 气路智能控制，纳克光谱仪工作原理，实现软件点火，更方便
 

　　8.安全 有冷却水保护、灭弧保护更安全
 

　　采用多重屏蔽和良好的接地，使仪器辐射小于2v/m (jjg768-2005规定小于10v/m)。地操作者的安全。
 

　　钢研纳克光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：
 

　　1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
 

　　2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，手持式纳克光谱仪工作原理，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
 

　　3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
 

　　4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
 

　　5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是ccd阵列或其它种类的光探测器阵列。